半導體芯片觀察顯微鏡

    UMT250系列金相檢測顯微鏡

    工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察、暗場觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。

    半導體芯片觀察顯微鏡標準配置

      
    半導體芯片觀察顯微鏡選配件